Zobrazeno 1 - 10
of 296
pro vyhledávání: '"Sanders, A.B."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
O'Bryan, M.V., LaBel, K.A., Pellish, J.A., Lauenstein, J.-M., Dakai Chen, Marshall, C.J., Oldham, T.R., Kim, H.S., Phan, A.M., Berg, M.D., Campola, M.J., Sanders, A.B., Marshall, P.W., Xapsos, M.A., Heidel, D.F., Rodbell, K.P., Swonger, J.W., Alexander, D., Gauthier, M., Gauthier, B.
Publikováno v:
2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW); 2011, p1-13, 13p
Autor:
Cochran, D.J., Boutte, A.J., Campola, M.J., Carts, M.A., Casey, M.C., Chen, D., LaBel, K.A., Ladbury, R.L., Lauenstein, J., Marshall, C.J., O'Bryan, M.V., Oldham, T.R., Pellish, J.A., Sanders, A.B., Xapsos, M.A.
Publikováno v:
2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW); 2011, p1-10, 10p
Total Ionizing Dose and Displacement Damage Compendium of Candidate Spacecraft Electronics for NASA.
Autor:
Cochran, D.J., Buchner, S.P., Dakai Chen, Kim, H.S., LaBel, K.A., Oldham, T.R., Campola, M.J., O'Bryan, M.V., Ladbury, R.L., Marshall, C., Sanders, A.B., Xapsos, M.A.
Publikováno v:
2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop; 2009, p25-31, 7p
Autor:
O'Bryan, M.V., LaBel, K.A., Pellish, J.A., Buchner, S.P., Ladbury, R.L., Oldham, T.R., Kim, H.S., Campola, M.J., Lauenstein, J.-M., Chen, D., Berg, M.D., Sanders, A.B., Marshall, P.W., Marshall, C.J., Xapsos, M.A., Kruckmeyer, K., Leftwich, M., Benedetto, J.M.
Publikováno v:
2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop; 2009, p15-24, 10p
TID and SEE Response of Advanced Samsung and Micron 4G NAND Flash Memories for the NASA MMS Mission.
Autor:
Oldham, T.R., Friendlich, M.R., Sanders, A.B., Seidleck, C.M., Kim, H.S., Berg, M.D., LaBel, K.A.
Publikováno v:
2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop; 2009, p114-122, 9p
Publikováno v:
2008 IEEE Radiation Effects Data Workshop; 2008, p148-151, 4p