Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"Saman Adham"'
Autor:
Hidehiro Fujiwara, Haruki Mori, Wei-Chang Zhao, Mei-Chen Chuang, Rawan Naous, Chao-Kai Chuang, Takeshi Hashizume, Dar Sun, Chia-Fu Lee, Kerem Akarvardar, Saman Adham, Tan-Li Chou, Mahmut Ersin Sinangil, Yih Wang, Yu-Der Chih, Yen-Huei Chen, Hung-Jen Liao, Tsung-Yung Jonathan Chang
Publikováno v:
2022 IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::399687bfa437d849b1e2758496cfcdf6
https://doi.org/10.1109/isscc42614.2022.9731754
https://doi.org/10.1109/isscc42614.2022.9731754
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 129:114464
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3aac2d7f0c88dfcedc038d3c44d7d134
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114464
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2021.114464
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing; Feb2012, Vol. 28 Issue 1, p7-9, 3p
Publikováno v:
2015 IEEE International Test Conference (ITC); 2015, p1-3, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing; Jun2018, Vol. 34 Issue 3, p351-362, 12p
Autor:
Marinissen, Erik Jan, De Wachter, Bart, O'Loughlin, Stephen, Deutsch, Sergej, Papameletis, Christos, Burgherr, Tobias
Publikováno v:
2014 International Test Conference; 2014, p1-10, 10p
Publikováno v:
2013 IEEE International Test Conference (ITC); 2013, p13-16, 4p