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Autor:
Salhab, Abbas, Carlier, Julien, Toubal, Malika, Campistron, Pierre, Neyens, Marc, Nongaillard, Bertrand, Thomy, Vincent
Publikováno v:
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA2022
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA2022, Société Française d'Acoustique; Laboratoire de Mécanique et d'Acoustique, Apr 2022, Marseille, France
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022, Société Française d'Acoustique; Laboratoire de Mécanique et d'Acoustique, Apr 2022, Marseille, France
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022, Apr 2022, Marseille, France
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA2022, Société Française d'Acoustique; Laboratoire de Mécanique et d'Acoustique, Apr 2022, Marseille, France
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022, Société Française d'Acoustique; Laboratoire de Mécanique et d'Acoustique, Apr 2022, Marseille, France
16ème Congrès Français d'Acoustique, CFA 2022, Apr 2022, Marseille, France
International audience; Removing contaminants from silicon wafers surface is an important part in the semi-conductors industry. Wet cleaning processes are essential steps as they are used after each operation (lithography, etching, etc…) in order t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0fbf8696ea63ac33ce24c0b272deb1fc
http://hdl.handle.net/20.500.12210/78492
http://hdl.handle.net/20.500.12210/78492
Autor:
Salhab, Abbas
Publikováno v:
Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université Polytechnique Hauts-de-France, 2022. English. ⟨NNT : 2022UPHF0008⟩
In the semiconductor industry, effective wet cleaning of contamination is a critical factor in ensuring good quality of electronic products. The cycle between the wetting and drying processes can create several problems in the high aspect ratio micro
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4254::36d1e3561c7a00d2dc7ce5b4d71cbafb
https://theses.hal.science/tel-03663964
https://theses.hal.science/tel-03663964
Autor:
Salhab, Abbas
Publikováno v:
Small-scale elastic metrology using high-frequency acoustic waves
Small-scale elastic metrology using high-frequency acoustic waves, Oct 2020, Online workshop only, France
Small-scale elastic metrology using high-frequency acoustic waves, Oct 2020, Online workshop only, France
ST-IEMN common laboratory PhD workshop program 2020; International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4254::912f87862b14f71bec77eef233320a04
https://uphf.hal.science/hal-03591130
https://uphf.hal.science/hal-03591130
Autor:
Salhab, Abbas Ramez, Carlier, Julien, Campistron, Pierre, Neyens, Marc, Toubal, Malika, Nongaillard, Bertrand, Thomy, Vincent
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; February 2021, Vol. 314 Issue: 1 p143-149, 7p