Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"Sakagami, E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
International Technical Digest on Electron Devices Meeting; 1989, p587-590, 4p
Publikováno v:
International Technical Digest on Electron Devices; 1990, p95-98, 4p
Publikováno v:
International Technical Digest on Electron Devices; 1990, p577-580, 4p
Autor:
Watanabe, H., Yamada, S., Tanimoto, M., Matsui, M., Kitamura, S., Amemiya, K., Tanzawa, T., Sakagami, E., Kurata, M., Isobe, K., Takebuchi, M., Kanda, M., Mori, S., Watanabe, T.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998 Technical Digest (Cat No98CH36217); 1998, p975-978, 4p
Autor:
Sakagami, E., Arai, N., Tsunoda, H., Egawa, H., Yamaguchi, Y., Kamiya, E., Takebuchi, M., Yamada, K., Yoshikawa, K., Mori, S.
Publikováno v:
Proceedings of 1994 IEEE International Reliability Physics Symposium; 1994, p359-367, 9p
Publikováno v:
29th Annual Proceedings Reliability Physics 1991; 1991, p175-182, 8p
Autor:
Mori, S., Kaneko, Y., Arai, N., Ohshima, Y., Araki, H., Narita, K., Sakagami, E., Yoshikawa, K.
Publikováno v:
28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium; 1990, p132-144, 13p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1992, Vol. 39 Issue 2, p283-291, 9p
Autor:
Mori, S., Sakagami, E., Araki, H., Kaneko, Y., Narita, K., Ohshima, Y., Arai, N., Yoshikawa, K.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1991, Vol. 38 Issue 2, p386-391, 6p