Zobrazeno 1 - 10
of 41
pro vyhledávání: '"Sabouret, E."'
Autor:
Plantier, L., Le Friec, Y., Humbert, A., Imbert, G., Sabouret, E., Sardo, M., Girault, V., Delille, D., Jullian, S., Junker, K.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2407-2411
Autor:
Tavel, B., Duriez, B., Gwoziecki, R., Basso, M.T., Julien, C., Ortolland, C., Laplanche, Y., Fox, R., Sabouret, E., Detcheverry, C., Boeuf, F., Morin, P., Barge, D., Bidaud, M., Biénacel, J., Garnier, P., Cooper, K., Chapon, J.D., Trouiller, Y., Belledent, J., Broekaart, M., Gouraud, P., Denais, M., Huard, V., Rochereau, K., Difrenza, R., Planes, N., Marin, M., Boret, S., Gloria, D., Vanbergue, S., Abramowitz, P., Vishnubhotla, L., Reber, D., Stolk, P., Woo, M., Arnaud, F.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2006 50(4):573-578
Autor:
Reynard, J.P ∗, Verove, C, Sabouret, E, Motte, P, Descouts, B, Chaton, C, Michailos, J, Barla, K
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 60(1):113-118
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fox, R., Hinsinger, O., Richard, E., Sabouret, E., Berger, T., Goldberg, C., Humbert, A., Imbert, G., Brun, P., Ollier, E., Maurice, C., Guillermet, M., Monget, C., Plantier, V., Bono, H., Zaleski, M., Mellier, M., Jacquemin, J.P., Flake, J., Sharma, B.G.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p81-84, 4p
Autor:
Hinsinger, O., Fox, R., Sabouret, E., Goldberg, C., Verove, C., Besling, W., Brun, P., Josse, E., Monget, C., Belmont, O., Van Hassel, J., Sharma, B.G., Jacquemin, J.P., Vannier, P., Humbert, A., Bunel, D., Gonella, R., Mastromatteo, E., Reber, D., Farcy, A.
Publikováno v:
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004; 2004, p317-320, 4p
Highly selective oxide to nitride etch processes on BPSG/nitride/oxide structures in a MERIE etcher.
Publikováno v:
IEEE/SEMI 1998 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference & Workshop (Cat No98CH36168); 1998, p314-319, 6p
Autor:
Goldberg, C., Downey, S., Fiori, V., Fox, R., Hess, K., Hinsinger, O., Humbert, A., Jacquemin, J.-P., Lee, S., Lhuillier, J.-B., Orain, S., Pozder, S., Proenca, L., Quercia, F., Sabouret, E., Tu Anh Tran, Uehling, T.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference, 2005; 2005, p3-5, 3p