Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"SOM‐RPM"'
Autor:
See Yoong Wong, Sarah L. Harmer, Wil Gardner, Alex K. Schenk, Davide Ballabio, Paul J. Pigram
Publikováno v:
Advanced Materials Interfaces, Vol 10, Iss 36, Pp n/a-n/a (2023)
Abstract Photoemission electron microscopy (PEEM) is a powerful technique for surface characterization that provides detailed information on the chemical and structural properties of materials at the nanoscale. In this study, the potential is explore
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/26d96d0933274f5fb550e3ed6994de8e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.