Zobrazeno 1 - 10 of 16 pro vyhledávání: '"SLEIGHT, M. E."'
1
Periodical
Measurement of Debye-Waller factors by electron precession
Autor: Midgley, P. A., Sleight, M. E., Saunders, M., Vincent, R.
Publikováno v: Ultramicroscopy; 1998, Vol. 75 Issue: 2 p61-67, 7p
Zobrazit plný text záznamu
2
Periodical
THE REAPERS.
Autor: SLEIGHT, M. E.
Publikováno v: National Sunday School Teacher; 02/01/1872, Vol. 7 Issue 2, p51-51, 1/2p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Bootstrapping inflationary correlators in Mellin space.
Autor: Sleight, Charlotte, Taronna, Massimo
Publikováno v: Journal of High Energy Physics; Feb2020, Vol. 2020 Issue 2, p1-35, 35p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Precession electron diffraction 1: multislice simulation.
Autor: Own, C. S.1 csown@northwestern.edu, Marks, L. D.1, Sinkler, W.2
Publikováno v: Acta Crystallographica: Section A (Wiley-Blackwell). Nov2006, Vol. 62 Issue 6, p434-443. 10p. 3 Diagrams, 9 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Refinement of the crystal structural parameters of La2/3Ca1/3MnO3 using quantitative convergent-beam electron diffraction.
Autor: Fang Feng1, Jing Zhu1 jzhu@mail.tsinghua.edu.cn, Aihua Zhang1
Publikováno v: Acta Crystallographica: Section A (Wiley-Blackwell). Jul2005, Vol. 61 Issue 4, p453-459. 7p.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Refinement of crystal structural parameters using two-dimensional energy-filtered CBED patterns.
Autor: Tsuda, Kenji, Tanaka, Michiyoshi
Publikováno v: Acta Crystallographica: Section A (Wiley-Blackwell); Sep99, Vol. 55 Issue 5, p939, 16p
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Quantitative zone-axis convergent-beam electron diffraction (CBED) studies of metals. II. Debye-Waller-factor measurements.
Autor: Saunders, M., Fox, A.G., Midgley, P.A.
Publikováno v: Acta Crystallographica: Section A (Wiley-Blackwell); May99, Vol. 55 Issue 3, p480, 9p
Zobrazit plný text záznamu
8
Periodical
Books of the Week.
Publikováno v: Nation; 12/19/1912, Vol. 95 Issue 2477, p599-600, 2p
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Convergent-beam electron diffraction.
Autor: Tanaka, Michiyoshi, Tsuda, Kenji
Publikováno v: Journal of Electron Microscopy; Aug2011 Supplement 1, Vol. 60 Issue suppl_1, pS245-S267, 1p
Zobrazit plný text záznamu
10
Elektronická kniha
Advances in Imaging and Electron Physics
Autor: Hawkes, P. W.
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especia
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje