Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"SEU-Imaging"'
Publikováno v:
Scanning Microscopy
A new form of microscopy has been developed which produces micron-resolution maps of where single event upsets occur during ion irradiation of integrated circuits. Utilizing a nuclear microprobe, this imaging technique can irradiate, in isolation, in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1459::7d084d5e3b2bf942f755a6864d1d8f65
https://digitalcommons.usu.edu/microscopy/vol5/iss4/8
https://digitalcommons.usu.edu/microscopy/vol5/iss4/8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.