Zobrazeno 1 - 10
of 498
pro vyhledávání: '"SCHELLING, C."'
Publikováno v:
In Theriogenology 15 April 2020 147:34-38
Autor:
Myslivecek, J., Schelling, C., Schaffler, F., Springholz, G., Smilauer, P., Krug, J., Voigtlander, B.
Scanning tunneling microscopy experiments show that the unstable growth morphology observed during molecular beam homoepitaxy on slightly vicinal Si(001) surfaces consists of straight step bunches. The instability occurs under step- flow growth condi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0212331
Publikováno v:
In Theriogenology June 2017 95:163-170
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Journal of Chromatography A 2008 1192(1):103-112
Autor:
Merz, F., Gallana, M., Hartnack, S., Del Chicca, F., Dolf, G., Hungerbühler, S., Hittmair, K. M., Dorsch, R., Zaal, M., Vink-Nooteboom, M., Hartmann, A., Pieńkowska-Schelling, A., Schelling, C., Reichler, I. M.
Publikováno v:
Schweizer Archiv für Tierheilkunde; jul2022, Vol. 164 Issue 7/8, p535-546, 12p
Autor:
Simon, R, Lischer, H. E. L., Pieńkowska-Schelling, A., Keller, I., Häfliger, I. M., Letko, A., Schelling, C, Lühken, G, Drögemüller, C.
In domestic goats, the polled intersex syndrome (PIS) refers to XX female-to-male sex reversal associated with the absence of horn growth (polled). The causal variant was previously reported as a 11.7 kb deletion at approximately 129 Mb on chromosome
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4c209f1e6d8023da72ca9c2fb1129b0b
Autor:
Zhong, Z., Lichtenberger, H., Chen, G., Mühlberger, M., Schelling, C., Myslivecek, J., Halilovic, A., Stangl, J., Bauer, G., Jantsch, W., Schäffler, F.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):1730-1735