Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"SAYRAÇ, MUHAMMED"'
Autor:
Sayrac, Muhammed
Femtosecond time scale allows us to follow and control atomic and molecular motion. The atomic vibrations happen in the range of femtosecond scale. Thus, femtosecond technology effectively measures the atomic vibration. However, to determine electron
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1969.1/150970
Publikováno v:
In Optik January 2021 226 Part 1
Publikováno v:
In Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena May 2019 233:22-27
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Lantan hekzaborid (La ), yaklaşık 900nm-1000 nmdalga boyunda merkezlenmiş absorpsiyon vadisi nedeniyle ilgi çeken birmalzemedir. 1064 nm dalga boyuna sahip yakın kızılötesi (NIR) radyasyonu emeninorganik malzemelerin geliştirilmesi birçok o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10046::431eaa0cf86ba102ae4f10d625cadc6a
https://avesis.gazi.edu.tr/publication/details/1584263e-e24b-45ac-bcc3-8f304e9be161/oai
https://avesis.gazi.edu.tr/publication/details/1584263e-e24b-45ac-bcc3-8f304e9be161/oai
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
SAYRAÇ, Muhammed1 muhammedsayrac@karatekin.edu.tr
Publikováno v:
Journal of the Institute of Science & Technology / Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi. Sep2020, Vol. 10 Issue 3, p1659-1665. 7p.
We have theoretically investigated the effect of structure parameters and applied external fields on the Ga1−xAlxAs/GaAs Konwent quantum well structure. Results of theoretical simulation have clarified the impact of applied external electric and ma
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3104::a43bef43577edab58ef7506ccde658f9
https://hdl.handle.net/20.500.12418/13347
https://hdl.handle.net/20.500.12418/13347
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Characterization of nanostructures using X-ray diffraction (XRD) method gives information on the composition, the lattice strain, and heteroepitaxial layers of the structures. These information are useful for fabrication process of optoelectronic dev
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3192::9f3266568303604151468f0f7d814d96
https://hdl.handle.net/11630/9596
https://hdl.handle.net/11630/9596