Zobrazeno 1 - 10
of 1 291
pro vyhledávání: '"SAIKI, K."'
Autor:
Yamashita, M., Tashiro, M., Saiki, K., Yamada, S., Akazawa, M., Shimozawa, M., Taniguchi, T., Takeda, H., Takigawa, M., Shishido, H.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 102, 165154 (2020)
We have performed $^{59}$Co NMR measurements of CeCoIn$_5$ down to ultralow temperatures. We find that the temperature dependence of the spin-echo intensity provides a good measure of the sample temperature, enabling us to determine a pulse condition
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2004.11730
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tokushige, H., Endo, T., Saiki, K., Hiidome, K., Kitamura, S., Katsuyama, T., Tokuda, M., Takagi, H., Morita, M., Ito, Y., Tsutsui, K., Wada, Y., Ikeda, N., Sugimoto, Y.
Publikováno v:
In Photonics and Nanostructures - Fundamentals and Applications November 2014 12(5):501-507
Publikováno v:
月サイエンスブック 第一部. :1-231
編集幹事 : 並木, 則行 / 諸田, 智克 / 西野, 真木 / 佐伯, 和人 / 小河, 正基 / 大竹, 真紀子
編集者 : 石原, 吉明 / 大竹, 真紀子 / 小河, 正基 / 小川, 佳子 / 鎌田, 俊一 / 倉本, 圭 / 佐伯, 和
編集者 : 石原, 吉明 / 大竹, 真紀子 / 小河, 正基 / 小川, 佳子 / 鎌田, 俊一 / 倉本, 圭 / 佐伯, 和
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Procedia Engineering 2012 41:1412-1420
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ogawa, N., Miyata, A., Tamaru, H., Suzuki, T., Shimada, T., Hasegawa, T., Saiki, K., Miyano, K.
Publikováno v:
In Chemical Physics Letters 2008 450(4):335-339
Autor:
Sokolov, N.S., Grekhov, I.V., Ikeda, S., Kaveev, A.K., Krupin, A.V., Saiki, K., Tsutsui, K., Tyaginov, S.E., Vexler, M.I.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2247-2250