Zobrazeno 1 - 10
of 168
pro vyhledávání: '"S.Y. Luo"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Intermetallics. 90:30-35
Different from the common understanding that crystallization deteriorates the degradation capability of amorphous alloys, we show here that the Fe-based multi-phase nanocrystalline ribbons (Fe-MNRs) exhibit 3 and 17 times higher degradation rate than
Autor:
S.Y. Luo, Shujia Yin, Jili Jia, Yang Shao, Shenghan Gao, Zhun Li, G. N. Yang, Kefu Yao, Shuang-Qin Chen
Publikováno v:
Journal of Materials Chemistry A. 5:14230-14240
Different from the reported results, multiphase (Fe73.5Si13.5B9Nb3Cu1)91.5Ni8.5 nanocrystalline ribbons (CR-II) show much better degradation capability in Orange II than their metallic glass (MG) counterparts. CR-II ribbons have superior properties,
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Materialia. 76:482-492
An interatomic potential is constructed for the Ni–Nb–Zr ternary metal system under the newly proposed long-range empirical formulism, which has been verified to be applicable for face-centered cubic, body-centered cubic and hexagonal close-packe
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tsung Han Yu, S.Y. Luo
Publikováno v:
Advanced Materials Research. 797:273-278
The purpose of this paper was to investigate the silicon wafer surface roughness ground by the micro pellet grinding tool and the electroplated disc grinding tool with diamond grit size of 4-6 μm and 10-20μm under the spindle rotation speed of 500-