Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"S.V. Stetsura"'
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 226:595-600
The influence of positively charged ion bombardment and white light illumination on polycrystalline high-resistance photosensitive CdS–PbS semiconductor was investigated by secondary-ion mass spectrometry method. The illumination during ion sputter
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bcbd8a68b3220db0bab033e62d87724c
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2004.08.009
https://doi.org/10.1016/j.nimb.2004.08.009
Publikováno v:
Fifth International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering.
For study of impurities distribution in film hetero-phase photoresistors the method of the secondary ionic mass-spectrometry was used. Influence of illumination by visible light on an output of ions of cadmium and lead is revealed. It being found tha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4539fc91af10c53297d47714ce7723bd
https://doi.org/10.1109/apede.2002.1044937
https://doi.org/10.1109/apede.2002.1044937
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.