Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"S.S. Summers"'
Publikováno v:
Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America. 54:1046-1047
The objective of this research is to develop imaging time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) to characterize ultra-thin organic films on microscopic particles. An initial application is to evaluate the surface chemistry of polycycli
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.