Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"S.P.-S. Ho"'
Autor:
L. J. Hung, Kelvin Doong, Sheng-Che Lin, T.J. Bordelon, Chien-Chih Liao, S.P.-S. Ho, Sunnys Hsieh, K.L. Young
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 21:169-179
This paper describes a common framework of test chip design for logic technology development and routine process monitoring, referred to as a field-configurable test structure array (FC-TSA), which can accommodate and test various types of test struc
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6936969c4bc93197f15433bb7f80cd45
https://doi.org/10.1109/tsm.2008.2000278
https://doi.org/10.1109/tsm.2008.2000278
Autor:
Philip Chia-Chi Lin, Kelvin Doong, K.L. Young, Sunnys Hsieh, Sheng-Che Lin, Chia-Chi Chu, Jurcy Cho-Hsi Huang, S.P.-S. Ho, Roger Wen-Lung Kang, Robin Chien-Jung Wang, L. J. Hung
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 17:123-141
This study aims to provide an integrated infrastructure for electrical-based dimensional process-window checking. The proposed infrastructure is comprised of design tools, testing programs, and analytical tools, providing an automatic and hierarchica
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fc605f33cde83ef61c91c3bb277deee7
https://doi.org/10.1109/tsm.2004.827003
https://doi.org/10.1109/tsm.2004.827003
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.