Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"S.L. Luce"'
Autor:
I. Vitomirov, M.D. Gordon, Dana Dereus, Shawn J. Cunningham, Z.-X. He, N. Lai, Eric J. White, Jeffrey C. Maling, William J. Murphy, C. Gillman, S.L. Luce, B.K. Wong, Art Morris, A. K. Stamper, Christopher V. Jahnes
Publikováno v:
2012 Solid-State, Actuators, and Microsystems Workshop Technical Digest.
Publikováno v:
1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395).
The increase in ratio of wiring RC delay to the intrinsic transistor RC delay is motivating the IC industry to move from subtractive-aluminum to damascene-copper wiring. In addition to having 40% lower sheet resistance, damascene copper has significa
Publikováno v:
IEEE/SEMI 1998 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (Cat. No.98CH36168).
Historically, the semiconductor industry has made chip speed the focus of its high performance CMOS logic development strategy. For the wires and insulators used in the back-end-of-the-line (BEOL), this has driven the industry to use damascene tungst
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.