Zobrazeno 1 - 10
of 59
pro vyhledávání: '"S.J. Leake"'
Autor:
T.U. Schülli, E Dollekamp, Z Ismaili, N. Nawaz, T. Januel, T. Billo, P. Brumund, H. Djazouli, S.J. Leake, M. Jankowski, V. Reita, M. Rodriguez, L. André, A. Aliane, Y.M. Le Vaillant
Publikováno v:
Materials Today Advances, Vol 22, Iss , Pp 100489- (2024)
Imposing and controlling strain in materials such as semiconductors or ferroelectrics is a promising way to obtain new or enhance existing properties. Although the field of strain engineering has seen a rapid expansion over the last two decades, stra
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/83b0da7329ea442b8b34759b3eddd591
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Michael Hanke, Albert Kwasniewski, D. Braun, Jutta Schwarzkopf, S.J. Leake, C. Feldt, L. von Helden, Martin Schmidbauer
Publikováno v:
Journal of Applied Crystallography
Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2017, 50, pp.519-524. ⟨10.1107/S1600576717000905⟩
'Journal of Applied Crystallography ', vol: 50, pages: 519-524 (2017)
Journal of Applied Crystallography, International Union of Crystallography, 2017, 50, pp.519-524. ⟨10.1107/S1600576717000905⟩
'Journal of Applied Crystallography ', vol: 50, pages: 519-524 (2017)
Scanning X-ray nanodiffraction on a highly periodic ferroelectric domain pattern of a strained K0.75Na0.25NbO3 epitaxial layer has been performed by using a focused X-ray beam of about 100 nm probe size. A 90°-rotated domain variant which is aligned
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::017f3da5201c7e856a4f548c3cb6164b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.