Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"S.H. Tetzler"'
Publikováno v:
Applied Surface Science. 252:6533-6536
A quartz crystal microbalance (QCM) has been used to determine total-mass sputtering yields of PMMA films by 1–16 keV C60+,2+ ion beams. Quantitative sputtering yields for PMMA are presented as mass loss per incident ion Ym. Mass-lost rate QCM data
Publikováno v:
Microporous and Mesoporous Materials. 79:101-110
Adsorption of thiophene and its derivatives was carried out using silver impregnated nanocrystalline metal oxides, with special emphasis on aluminum oxide. A modified nanocrystalline aluminum oxide was prepared by an impregnation method and character
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.