Zobrazeno 1 - 10
of 44
pro vyhledávání: '"S.H. Huynh"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Q.H. Luc, K.Y. Zhang, C.C.Fan Chiang, Y.D. Jin, H.B. Do, M.T.H. Ha, S.H. Huynh, P. Huang, C.W. Hsu, S.P. Wang, Y.C. Lin, Y.E. Chang
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Autor:
Q.H. Luc, Y.D. Jin, K.S. Yang, M.T.H. Ha, H.B. Do, S.H. Huynh, J.W. Lin, C.-C.F. Chang, T.A. Nguyen, E.Y. Chang
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Autor:
K.S. Yang, M.T.H. Ha, Y.-D. Jin, S.H. Huynh, T.A. Nguyen, Y.C. Lin, Q.H. Luc, H. Binh Do, E.Y. Chang, J.W. Lin, C.-C.F. Chiang
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Autor:
E.Y. Chang, Y.D. Jin, H.B. Do, Q.-H. Luc, H.M.T. Ha, T.A. Nguyen, Y.-C. Lin, C.-C. Chang, J.W. Lin, K.S. Yang, S.H. Huynh, C.-C.Fan Chiang
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Autor:
Q.-H. Luc, T.A. Nguyen, E.Y. Chang, M.T.H. Ha, Y.-C. Lin, J.W. Lin, K.S. Yang, S.H. Huynh, C.-C.F. Chiang, C.C. Chang, Y.D. Jin, H.B. Do
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2017 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Autor:
C.C. Chang, S.H. Huynh, E.Y. Chang, K.S. Yang, P.C. Chang, M.T.H. Ha, H.B. Do, J.W. Lin, Q.H. Luc, Y.C. Lin, C.C.F. Chang
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2016 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2015 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.