Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"S.E. Deziel"'
Publikováno v:
1999 IEEE International SOI Conference. Proceedings (Cat. No.99CH36345).
A significant reliability aspect regarding commercial application of SOI is the consistency of the device gate oxide integrity (GOI). This research focuses on the smoothing of SIMOX SOI surfaces for advanced CMOS applications with improved GOI and re
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::49a905ebbbf11f2af3667b04678e9565
https://doi.org/10.1109/soi.1999.819880
https://doi.org/10.1109/soi.1999.819880
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.