Zobrazeno 1 - 10
of 70
pro vyhledávání: '"S.D. Walck"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microscopy Today. 17:30-35
Good sample preparation is essential for acquiring successful electron backscattered diffraction (EBSD) patterns in the SEM. Mechanical polishing to obtain the required surface quality with minimal sub-surface defects and deformation that does not in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::61c5c413093ac4f9af71f626c3488658
https://doi.org/10.1017/s1551929500050082
https://doi.org/10.1017/s1551929500050082
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S.D. Walck, Tracy L. Thompson, Oliver Diwald, S. Mezhenny, D. Stahl, J. T. Yates, Peter Maksymovych
Publikováno v:
Chemical Physics Letters. 369:152-158
The effect of UV radiation ( 1.6 eV ⩽hν⩽5.6 eV ) on the rutile surface was studied in ultrahigh vacuum (UHV) using the scanning tunneling microscope (STM). It was found that the TiO 2 (1 1 0) -(1×1) surface remains unaffected by UV irradiation.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3ff753e47938dceaac4fd7ebb30cf285
https://doi.org/10.1016/s0009-2614(02)01997-8
https://doi.org/10.1016/s0009-2614(02)01997-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Crystal Growth. 99:717-721
The Vickers microhardness was measured as a function of composition in four II-VI semiconducting alloy systems: Hg 1- x Cd x Te, Hg 1- x Zn x Te, Hg 1- x Cd x Se, and Hg 1- x Zn x Se. The hardness data for Hg 1- x Cd x Te are in agreement with those
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::227b3f7b300d60509e631f5878d79d0d
https://doi.org/10.1016/s0022-0248(08)80013-9
https://doi.org/10.1016/s0022-0248(08)80013-9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.