Zobrazeno 1 - 10
of 203
pro vyhledávání: '"S. Yokogawa"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 2018 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cae1d92b9b5db52da112e3cab5d1a3b0
https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.g-1-03
https://doi.org/10.7567/ssdm.2018.g-1-03
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
H. Ikeda, Y. Ebiko, Yoshiya Hagimoto, Itaru Oshiyama, Hayato Iwamoto, T. Oinoue, S. Yokogawa, T. Hirano, S. Saito
Publikováno v:
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
We demonstrated the near-infrared (NIR) sensitivity enhancement of back-illuminated complementary metal oxide semiconductor image sensors (BI-CIS) with a pyramid surface for diffraction (PSD) structures on crystalline silicon and deep trench isolatio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::00e4d412afab37aab7563ea2fb5f3b30
https://doi.org/10.1109/iedm.2017.8268403
https://doi.org/10.1109/iedm.2017.8268403
Autor:
H. Tsuchiya, S. Yokogawa
Publikováno v:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 13:272-276
The lifetime distribution of stress-induced voiding with area scaling is investigated on a void nucleation and growth framework. The distribution resulting from the convolution integrals of the time to void nucleation and the time for void growth was
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1c76a814b1e1cc75310ca4e12e89d670
https://doi.org/10.1109/tdmr.2013.2237775
https://doi.org/10.1109/tdmr.2013.2237775
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.