Zobrazeno 1 - 10
of 127
pro vyhledávání: '"S. Warchoł"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
PRZEGLĄD MECHANICZNY. 1:47-50
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bbd055829355106396f9a568b3f90e73
https://doi.org/10.15199/148.2017.2.6
https://doi.org/10.15199/148.2017.2.6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Superlattices and Microstructures. 45:402-406
Deep level transient spectroscopy (DLTS) has been applied to study an effect of electron irradiation on the concentrations of deep-level defects in bulk 6H–SiC:N single crystals. Six electron traps labelled as T1A, T1B, T1C, T2, T3 and T4 with acti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b32005b6a1590f178c5f4fa2ec2966b9
https://doi.org/10.1016/j.spmi.2008.10.035
https://doi.org/10.1016/j.spmi.2008.10.035