Zobrazeno 1 - 10
of 75
pro vyhledávání: '"S. Vulpe"'
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 136686-136693 (2019)
This paper is dedicated to the study of the tunable electromagnetic properties of HfO2 doped with Zr (further referred to as HfZrO) grown on high-resistivity silicon using atomic layer deposition (ALD) techniques. Two metallic coplanar lines patterne
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e2f0b420ec8c4d5db235b2fd55317ff6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
C. Romanitan, I. Mihalache, S. Vulpe, M. Stoian, I. V. Tudose, K. Mouratis, O. Tutunaru, N. Djourelov, M. Suchea
Publikováno v:
2022 International Semiconductor Conference (CAS).
Autor:
Lucia Monica Veca, Cosmin Romanitan, Oana Tutunaru, F. Nastase, Iuliana Mihalache, S. Vulpe, Anca-Ionela Istrate
Publikováno v:
Coatings
Volume 11
Issue 9
Coatings, Vol 11, Iss 1023, p 1023 (2021)
Volume 11
Issue 9
Coatings, Vol 11, Iss 1023, p 1023 (2021)
We unveiled the effect of doping on the morpho-structural and opto/electrical properties of Ca-doped ZnO:Al thin films obtained by RF magnetron sputtering. Scanning electron microscopy (SEM) was performed to reveal the surface morphology, while the c
Autor:
Antoniu Moldovan, Nicoleta G. Apostol, S. Vulpe, Sorina Iftimie, F. Nastase, Adrian Dinescu, Mircea Dragoman, Cosmin Romanitan
Publikováno v:
Applied Surface Science. 483:324-333
Ferroelectric capacitors based on aluminium (Al) doped hafnium oxide (HfO2) thin films grown on silicon substrates were fabricated by Atomic Layer Deposition (ALD), taking into account two methods. The first one involved the growth of a binary oxide,
Autor:
Sergiu Iordanescu, Dan Vasilache, S. Vulpe, Mircea Dragoman, Adrian Dinescu, Martino Aldrigo, F. Nastase
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 7, Pp 136686-136693 (2019)
This paper is dedicated to the study of the tunable electromagnetic properties of HfO2 doped with Zr (further referred to as HfZrO) grown on high-resistivity silicon using atomic layer deposition (ALD) techniques. Two metallic coplanar lines patterne
Autor:
Martino Aldrigo, Mircea Modreanu, Davide Mencarelli, Ian M. Povey, Pierluigi Stipa, A. Di Donato, Emiliano Laudadio, Luca Pierantoni, Mircea Dragoman, Sergiu Iordanescu, S. Vulpe, F. Nastase
Publikováno v:
2020 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium (IMS).
In this paper, a systematic approach is reported for the electrical properties investigation of an emerging new class of materials for microwave applications, namely zirconium-doped hafnium oxide (HfZrO) ferroelectrics. Starting from atomistic simula
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.