Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"S. Suffis"'
Publikováno v:
Infrared Physics & Technology. 44:165-175
For some years, the IR laboratory of Onera (Office National des Etudes et Recherches Aeros-natiales) has carried out accurate electro-optical characterisation on IR detectors. This paper presents some work on IR detector radiation hardness measuremen
Autor:
A. De Rossi, Philippe F. Bois, S. Suffis-Carretero, Isabelle Ribet-Mohamed, Michel Tauvy, Nicolas Guerineau, Eric Costard
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 97:023106
A full understanding of the effect of oblique incidence on the response of the pixels of a focal plane array is required for calibrated radiometric imaging. Measuring the angular response of infrared detectors requires an extremely complex experiment
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.