Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"S. Smolev"'
Autor:
Arezou Khoshakhlagh, M. N. Kutty, S. K. Noh, Yagya D. Sharma, Sang Jun Lee, S. Smolev, Nutan Gautam, Stephen Myers, Sanjay Krishna, Ralph Dawson, Elena Plis
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials. 39:2203-2209
We report on the comparison of mesa sidewall profiles of InAs/GaSb strained-layer superlattice (SLS) detector structures (λ 50% cutoff ≈ 14 μm at V bias = 0 V and T = 30 K) obtained after (a) a conventional BCl3-based inductively coupled plasma e
Autor:
S. Smolev, Zahyun Ku, M. B. Sinclair, Igal Brener, Lorena I. Basilio, S. R. J. Brueck, G. A. Ten-Eyck, William L. Langston
Publikováno v:
Conference on Lasers and Electro-Optics 2010.
We demonstrate a resonant coupling and hybridization between the structural resonance in the permeability of a fishnet and a material resonance in the dielectric spacer layer. Experimental data shows a good agreement with theory.
Publikováno v:
2008 Conference on Lasers and Electro-Optics.
We numerically demonstrate graded index metamaterial sample f=3.2 mm with T=0.76 semiconductor processing technique ©2008 Optical Society of America OCIS codes: (260.2710) Physical
Autor:
Lorena I. Basilio, Michael B. Sinclair, William L. Langston, S. Smolev, Gregory A. Ten Eyck, Zahyun Ku, Steven R. J. Brueck, Igal Brener
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 28:C6O16-C6O20
The authors experimentally demonstrate a resonant hybridization between the magnetic dipole structural resonance in the permeability of a fishnet metamaterial and an electric dipole materialresonance in the permittivity of the dielectric spacer layer
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures. 22:3465
Imaging interferometric lithography, combining off-axis illumination, multiple exposures covering different regions of spatial frequency space, and pupil plane filters to ensure uniform frequency-space coverage, is a relatively new imaging concept th
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lee, Hyun-Jin, Kim, Young Chul, Eom, Jun Ho, Jung, Hyun Chul, Kang, Ko-Ku, Ryu, Seong Min, Jang, Ahreum, Lee, Tae Hee, Kim, Jong Gi, Kim, Young Ho, Jung, Han
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials; Sep2022, Vol. 51 Issue 9, p4689-4694, 6p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.