Zobrazeno 1 - 10
of 51
pro vyhledávání: '"S. Panahandeh"'
Publikováno v:
2023 24th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE).
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 142:114910
Autor:
S. Panahandeh, D. May, C. Grosse-Kockert, A. Stelzer, B. Rabay, D. Busse, B. Wunderle, M. Abo Ras
Publikováno v:
2022 23rd International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE).
Publikováno v:
Proceedings of the 2022 International Conference on Quantitative InfraRed Thermography.
In this study, we demonstrate the capabilities of lock-in thermography (LIT) for the inspection of sintered chip interconnections. The laser LIT technology is used to detect delamination in the sintered layer between copper pad and SiC chip. This wor
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.