Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"S. Pétremont"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 51:1845-1849
This paper presents the insulated TO-220AB TRIAC package aging when these devices are subjected to experimental power cycling test with various case temperature swings (Δ T case ). This study includes reliability tests set-up, results and failure an
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.