Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"S. Klingbeil"'
Autor:
J. Wan, K. Kim, F. Vanaverbeke, B. Green, C. Gaw, P. Renaud, S. Klingbeil, J. Finder, K. Moore, C. Ramplev, C. Zhu, D. Burdeaux, T. Amold, D. Hill
Publikováno v:
2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM).
Gallium nitride (GaN) has taken a dominant role in high power, high frequency applications. The material properties of GaN enable high power density, high efficiency, and high gain operation. NXP's GaN technology fully harnesses these inherent GaN pe
Autor:
C. Rampley, K. Kim, D. Hill, P. Renaud, K. Moore, J. Wan, C. Gaw, S. Klingbeil, R. Embar, Peter Rashev, T. Arnold, B. Green, C. Zhu, Mir Masood, F. Vanaverbeke, J. Finder, D. Burdeaux
Publikováno v:
BCICTS
Gallium nitride (GaN) heterostructure field effect transistor (HFET) technology is rapidly becoming the solution of choice for a variety of infrastructure applications for 4G and beyond. In response to this rapidly increasing demand, NXP has develope
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
D. Maurer, Ellen Lan, E.M. Johnson, P. Fisher, Charles E. Weitzel, P. Li, C.A. Gaw, J. Kim, M. Miller, B.M. Green, Lawrence S. Klingbeil, B. Knappenberger, M. CdeBaca, O. Hartin
Publikováno v:
2004 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (IEEE Cat. No.04CH37535).
This report presents a GaAs pHEMT technology optimized for 26 V drain bias. At this bias, a 2.14 GHz gate width scaling study demonstrates output power densities of 1.8-2.1 W/mm of output power at 1 dB gain compression (P/sub 1dB/) for device sizes r
Autor:
Ralph S. Klingbeil, Keith M. Sullivan
The benefits of network-centric warfare are addressed in many publications, but few of these publications actually demonstrate how to quantify these alleged benefits. This report proposes an analytical framework to quantify the value-added of network
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::45b3fe595c1540a87da267945d0301c0
https://doi.org/10.21236/ada416829
https://doi.org/10.21236/ada416829
Autor:
P. Savary, G. Montoriol, F. Clayton, B. Thibaud, V. Esnault, E. Yu, M. Tutt, A. Mitra, D. Hill, A. Girardot, R. Uscola, A. Reyes, K. Rajagopalan, L. Cornibert, H. Henry, C. Rampley, M. Majerus, F. Dupis, Mariam G. Sadaka, S. Klingbeil, O. Izumi, L. Chapoux, R. Jaoui
Publikováno v:
GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 23rd Annual Technical Digest 2001 (Cat. No.01CH37191).
A heterojunction bipolar transistor (HBT) technology utilizing InGaP/GaAs and carbon-doped base has been established in Motorola's high-volume 6" GaAs facility. The technology has been used to develop an integrated dual band (824-849 MHz and 1850-191
Autor:
K S, Klingbeil, L S, Nemeth
Publikováno v:
Outcomes management for nursing practice. 3(4)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.