Výsledky vyhledávání - "S. K. Tchejeyan"

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Knihovna bude uzavřena od 23. 12. 2024 do 3. 1. 2025.

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "S. K. Tchejeyan"
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 63 pro vyhledávání: '"S. K. Tchejeyan"'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Patent Reviews: 5,367,528; 5,371,589; 5,418,803; 5,448,052; 5,448,664; 5,449,882; 5,457,997; 5,475,527

Autor: R. L. Hilliard, W. H. Lee, R. Kingslake, S. D. Miles, A. Mann, S. F. Jacobs, L. S. Sadovnik, S. K. Tchejeyan, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, B. J. Howell, D. L. Sullivan, H. Miranda, G. L. Mitchell, I. J. Abramovitz, J. A. Decker, A. Brunsting, E. Loewen, D. C. Leiner, P. M. Kuhn

Publikováno v: Applied Optics. 36:1832

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dd0eff6fad463168f8e9008b188a9553
https://doi.org/10.1364/ao.36.001832

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

Patent Reviews: 5,331,445; 5,337,180; 5,477,348; 5,486,694; 5,486,951; 5,492,135; 5,495,767; 5,497,271; 5,499,139; 5,500,912; 5,504,595; 5,504,597

Autor: S. D. Miles, L. S. Sadovnik, J. A. Decker, R. L. Hilliard, H. Miranda, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, G. L. Mitchell, A. Brunsting, B. J. Howell, S. K. Tchejeyan, I. J. Abramovitz, D. L. Sullivan, A. Mann, R. Kingslake, E. Loewen, W. H. Lee, S. F. Jacobs, D. C. Leiner, P. M. Kuhn

Publikováno v: Applied Optics. 36:1418

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a88f8d0e558b5021a6b7e807f25ff481
https://doi.org/10.1364/ao.36.001418

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Patent Reviews: 5,458,084; 5,459,745; 5,459,745; 5,459,745; 5,461,239; 5,473,470; 5,483,058; 5,483,062; 5,483,307; 5,485,499; 5,486,701; 5,488,226; 5,488,229; 5,488,474; 5,488,474; 5,488,679; 5,491,334; 5,491,344; 5,493,391; 5,493,624

Autor: I. J. Abramovitz, D. C. Gilkeson, D. C. Leiner, D. L. Sullivan, P. M. Kuhn, L. S. Sadovnik, B. J. Howell, R. L. Hilliard, S. D. Miles, A. Mann, E. Loewen, D. E. Williamson, S. F. Jacobs, A. Brunsting, H. Miranda, G. L. Mitchell, S. K. Tchejeyan, J. J. J. Staunton, W. H. Lee, J. A. Decker

Publikováno v: Applied Optics. 35:4317

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6757512dedff4af856f2dca36d4760ff
https://doi.org/10.1364/ao.35.004317

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Patent Reviews: 5,351,320; 5,367,527; 5,375,130; 5,381,431; 5,388,111; 5,394,413; 5,406,194; 5,408,565

Autor: S. K. Tchejeyan, R. L. Hilliard, D. C. Gilkeson, W. H. Lee, H. Miranda, J. J. J. Staunton, E. Loewen, A. Mann, S. F. Jacobs, D. L. Sullivan, D. E. Williamson, G. L. Mitchell, L. S. Sadovnik, I. J. Abramovitz, B. J. Howell, A. Brunsting, J. A. Decker, D. C. Leiner, P. M. Kuhn

Publikováno v: Applied Optics. 34:6047

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8b28256d7a02c5ea00e9a4adbea3d31c
https://doi.org/10.1364/ao.34.006047

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Patent Reviews: 5,257,140; 5,266,795; 5,309,276; 5,326,266; 5,337,146; 5,339,157; 5,339,193; 5,347,391; 5,347,398; 5,349,183

Autor: B. J. Howell, A. Mann, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. Vaughan, D. E. Williamson, J. J. J. Staunton, G. L. Mitchell, W. H. Lee, L. S. Sadovnik, R. Prescott, D. C. Gilkeson, S. F. Jacobs, J. A. Decker, A. Brunsting, R. L. Hilliard, E. Loewen, D. L. Sullivan, H. Miranda, S. K. Tchejeyan, R. Asthelmer, I. J. Abramovitz

Publikováno v: Applied Optics. 34:1631

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a87be51ee6c2eb4c0fb9ce35713949a
https://doi.org/10.1364/ao.34.001631

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Patent Reviews: 5,278,691; 5,280,370; 5,319,188; 5,319,978; 5,326,956; 5,326,962; 5,329,397; 5,329,399

Autor: B. J. Howell, G. L. Mitchell, D. C. Gilkeson, I. J. Abramovitz, S. F. Jacobs, A. Mann, H. Miranda, L. S. Sadovnik, J. A. Decker, D. L. Sullivan, W. Vaughan, J. J. J. Staunton, E. Loewen, R. Prescott, R. L. Hilliard, R. Asthelmer, A. Brunsting, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. H. Lee, D. E. Williamson, S. K. Tchejeyan

Publikováno v: Applied Optics. 34:595

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2a729f3c9ef4eff0d068ee25b51287f8
https://doi.org/10.1364/ao.34.000595

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Patent Reviews: 5,083,219; 5,153,670; 5,162,872; 5,260,814; 5,262,879; 5,267,063; 5,270,791; 5,280,788; 5,288,996; 5,289,299; 5,291,316; 5,293,873; 5,294,806; 5,295,208; 5,296,972; 5,297,436; 5,303,021; 5,305,083; 5,305,124; 5,305,138

Autor: G. L. Mitchell, D. L. Sullivan, E. Loewen, I. J. Abramovitz, H. Miranda, R. Asthelmer, D. C. Gilkeson, D. E. Williamson, A. Mann, S. F. Jacobs, R. Kingslake, S. K. Tchejeyan, A. Brunsting, J. J. J. Staunton, R. Prescott, P. Wakeling, R. L. Hilliard, W. Vaughan, B. J. Howell, M. Handschy, J. A. Decker, W. J. Tomlinson, L. S. Sadovnik, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. H. Lee

Publikováno v: Applied Optics. 33:6567

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a2dd6c4de2005be2d4eb8d2c04d2f5e7
https://doi.org/10.1364/ao.33.006567

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Patent Reviews: 5,166,507; 5,187,538; 5,202,743; 5,206,502; 5,245,473; 5,262,644; 5,270,851; 5,206,526; 5,233,157; 5,256,872; 5,256,887; 5,257,126; 5,262,659; 5,264,957; 5,272,558; 5,275,168

Autor: J. A. Decker, W. J. Tomlinson, G. L. Mitchell, D. C. Leiner, I. J. Abramovitz, P. M. Kuhn, D. L. Sullivan, M. Handschy, S. F. Jacobs, R. L. Hilliard, R. Asthelmer, W. H. Lee, A. Brunsting, R. Kingslake, J. J. J. Staunton, D. C. Gilkeson, E. Loewen, L. S. Sadovnik, A. Mann, H. Miranda, W. Vaughan, B. J. Howell, R. Prescott, S. K. Tchejeyan, D. E. Williamson, P. Wakeling

Publikováno v: Applied Optics. 33:3802

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8806a13e072a3c272286a0f947c6accd
https://doi.org/10.1364/ao.33.003802

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Patent Reviews: 5,192,978; 5,196,957; 5,202,742; 5,233,182; 5,233,188; 5,233,415; 5,260,768

Autor: H. Miranda, L. S. Sadovnik, R. Asthelmer, R. Prescott, G. L. Mitchell, B. J. Howell, R. Kingslake, D. C. Gilkeson, E. Loewen, I. J. Abramovitz, W. H. Lee, J. A. Decker, S. F. Jacobs, M. Handschy, A. Mann, D. C. Leiner, P. M. Kuhn, W. Vaughan, S. K. Tchejeyan, D. E. Williamson, A. Brunsting, W. J. Tomlinson, R. L. Hilliard, J. J. J. Staunton, D. L. Sullivan, P. Wakeling

Publikováno v: Applied Optics. 33:3159

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::27f7ce05ca19344e7df6c62f767033e2
https://doi.org/10.1364/ao.33.003159

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Patent Reviews: 5,172,257; 5,191,216; 5,193,015; 5,202,744; 5,202,792; 5,204,516; 5,204,782; 5,208,701; 5,208,877; 5,210,400; 5,210,404; 5,210,409; 5,210,628; 5,210,646; 5,212,584; 5,212,593

Autor: M. Handschy, P. Wakeling, E. Loewen, W. H. Lee, D. E. Williamson, D. C. Gilkeson, A. Brunsting, D. L. Sullivan, R. L. Hilllard, A. Mann, J. A. Decker, S. K. Tchejeyan, B. J. Howell, R. Kingslake, D. C. Leiner, W. J. Tomlinson, S. F. Jacobs, J. J. J. Staunton, P. M. Kuhn, G. L. Mitchell, W. Vaughan, H. Miranda, I. J. Abramovitz, R. Asthelmer, R. Prescott, L. S. Sadovnik

Publikováno v: Applied Optics. 32:6208

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::106618e4f1e0c583b1763f0efa033bd8
https://doi.org/10.1364/ao.32.006208

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
Další »
[7]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

63 OpenAIRE

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......