Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"S. Gouthamraj"'
Publikováno v:
American Journal of Applied Sciences. 7:1157-1163
Problem statement: Linearity testing methods for DAC usually involves usage of non-linear analog components, which are indeed prone to various errors. Few other testing methodologies involve complex circuitry for measuring exactitude of DAC. Practica
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f081c0334b497d834cae378b72fa5ba0
https://doi.org/10.3844/ajassp.2010.1157.1163
https://doi.org/10.3844/ajassp.2010.1157.1163
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.