Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"S. Gehrsitz"'
The refractive index of AlxGa1−xAs below the band gap: Accurate determination and empirical modeling
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 87:7825-7837
The refractive indices of AlxGa1−xAs epitaxial layers (0.176⩽x⩽1) are accurately determined below the band gap to wavelengths, λ
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1b15d1639473dd3c939b42ca5e9a5334
https://doi.org/10.1063/1.373462
https://doi.org/10.1063/1.373462
Publikováno v:
Physical Review B. 60:11601-11610
Near infrared Brillouin scattering and high resolution x-ray diffraction is used for a precise determination of the elastic constants and the relaxed lattice parameters of ${\mathrm{Al}}_{x}{\mathrm{Ga}}_{1\ensuremath{-}x}\mathrm{As}$ epitaxial layer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::976980d225c37afe11c0db34dc04083d
https://doi.org/10.1103/physrevb.60.11601
https://doi.org/10.1103/physrevb.60.11601
Autor:
S. Gehrsitz, F. K. Reinhart, R. Morf, H. Rudigier, H. Siegwart, W. Martin, M. Krieger, H. Sigg, C. Heine
Publikováno v:
Applied optics. 36(22)
A standard tandem triple-pass scanning Fabry–Perot interferometer of the Vernier type for applications in the near infrared is described. The Fabry–Perot etalons have been coated with a specially designed dielectric multilayer stack with low loss
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::33afaf07ee2b6ab6ce4b0533d0e9d536
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/18259354
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/18259354
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gehrsitz S; Paul Scherrer Institute Zurich, Badenerstrasse 569, CH-8048 Zurich, Switzerland., Sigg H, Siegwart H, Krieger M, Heine C, Morf R, Reinhart FK, Martin W, Rudigier H
Publikováno v:
Applied optics [Appl Opt] 1997 Aug 01; Vol. 36 (22), pp. 5355-61.