Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"S. Cagnina"'
Publikováno v:
Chemical Engineering Transactions, Vol 31 (2013)
The dramatic accident involving ammonium nitrate (AN) that took place at Toulouse in September 2001 has once again focused attention to the complex hazards pertaining to this chemical. Despite the significant efforts made to increase AN safety over t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a56862d4124c4a369209c6e56df554e7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
The Journal of Physical Chemistry A. 121:1909-1915
The design of innovative combustion processes relies on a comprehensive understanding of biodiesel oxidation kinetics. The present study aims at unraveling the reaction mechanism involved in the epoxidation of a realistic biodiesel surrogate, methyl
Publikováno v:
The journal of physical chemistry. A. 121(9)
The design of innovative combustion processes relies on a comprehensive understanding of biodiesel oxidation kinetics. The present study aims at unraveling the reaction mechanism involved in the epoxidation of a realistic biodiesel surrogate, methyl
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
1991 Proceedings Eighth International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference.
The authors describe a 0.8 mu m double level metal technology developed for high density memory applications. A SOG (spin-on-glass) filled tungsten contact plug with barrier metal underneath and aluminum film on the top is proposed. Low contact-1 res
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society. 136:3786-3790
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
1986 International Electron Devices Meeting.
The effects of dynamic high field/current stressing on the thin oxide wear-out mechanism were studied. Less degradation was found under dynamic stress compared to static stress. Significant positive oxide charge detrapping was observed during dynamic