Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"S. Binzaid"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
R. C. Dwivedi, Richard Wilkins, S. Binzaid, D. Kalaria, M. Patel, J. O. Attia, M. Golam Faruk
Publikováno v:
2012 IEEE Aerospace Conference.
Deep space missions for human and robotic exploration require electronic devices that are tolerant to extend exposure to ionizing radiation, including proton radiation from both galactic cosmic rays and solar protons and energetic neutrons produced b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fec924939fcb218e2aead03f26bc9a6a
https://doi.org/10.1109/aero.2012.6187016
https://doi.org/10.1109/aero.2012.6187016
Autor:
J.O. Attia, S. Binzaid
Publikováno v:
2008 Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering.
Active-region-cutout (ARC) technique was developed to modify transistorpsilas active region in order to overcome shorted source-drain in an enclosed poly MOS device. The gate poly extension was made through the unipotential electrode of the active re
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2469e7abd8400106b67358ddc618fa6b
https://doi.org/10.1109/ccece.2008.4564732
https://doi.org/10.1109/ccece.2008.4564732
Publikováno v:
2008 IEEE Region 5 Conference.
An enclosed-layout-transistor (ELT) is modified using the active region cutout (ARC) technique. This transistor is called ARCELT. 3-D simulations were performed to obtain the leakage current with respect to radiation induced charge density, while kee
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d985a565428aafe151e02053fa719e6c
https://doi.org/10.1109/tpsd.2008.4562742
https://doi.org/10.1109/tpsd.2008.4562742
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.