Zobrazeno 1 - 10
of 11
pro vyhledávání: '"S. Ben Hatit"'
Publikováno v:
Thin Solid Films. 519:2608-2612
Current Mueller polarimeters, with either spectral or angular resolution, feature high enough precision and speed to be suitable for many demanding applications, with specific advantages over conventional spectroscopic ellipsometry (SE). Due to the s
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e081bc3ac143911ce58a8530f7da4629
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.062
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.062
Publikováno v:
physica status solidi (a). 205:720-727
The various decompositions of depolarizing Mueller matrices into products of basic optical devices, i.e. retarders, diattenuators and depolarizers, are critically revisited and discussed. Both classic as well as recently proposed factorizations are r
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a4f9a23008adddf1b92c70cdd5b264be
https://doi.org/10.1002/pssa.200777793
https://doi.org/10.1002/pssa.200777793
Publikováno v:
physica status solidi (a). 205:743-747
A new Mueller polarimeter based on liquid crystals and a microscope objective is presented for the characterization of diffraction gratings in a conical diffraction mounting. Fast measurements of complete Mueller matrices over a range of polar angles
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::95b7fb943953b3c81a8276456453b88e
https://doi.org/10.1002/pssa.200777806
https://doi.org/10.1002/pssa.200777806
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences, Vol 5, p 02003 (2010)
Development of the characterization tools and techniques used by semi-conductor industry directs not only towards increasing of the instrumental precision, to push limits of the optical characterization methods to the smallest lines, but also towards
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8d306d983880e4aea8dca82ea5e41594
https://doaj.org/article/5e7774e6780741ea92423ff1056bb428
https://doaj.org/article/5e7774e6780741ea92423ff1056bb428
Publikováno v:
Journal of the European Optical Society: Rapid Publications. 2
We experimentally assess the validity of the reverse polar decomposition (R. Ossikovski et al., Opt. Lett. 32, 689 (2007)), which describes any Mueller matrix as a product of a depolarizer, a diattenuator and a retarder with the diattenuator placed a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::472fe5a7cf0f73e8c6b06fec0301fa8a
https://doi.org/10.2971/jeos.2007.07018
https://doi.org/10.2971/jeos.2007.07018
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
A new Mueller polarimeter based on liquid crystals and a microscope objective is presented, for the characterization of diffraction gratings in a conical diffraction mounting. Fast measurements of complete Mueller matrices over a range of polar angle
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1c0c14d09e2f42f44e538f20767a2165
https://doi.org/10.1117/12.708627
https://doi.org/10.1117/12.708627
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.