Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"S. Beasor"'
Autor:
J. Chee, Subramani Kengeri, T. Tang, Navneet Jain, Hidekazu Yoshida, Je Kim, J. Stephen, N. Cave, Scott C. Johnson, S. Beasor, David Doman, Anurag Mittal, U. Schroeder, Lei Yuan, Irene Yuh-Ling Lin, Suresh Venkatesan, Mahbub Rashed, I. Rahim, Marc Tarabbia, S. Chan, Shibly S. Ahmed, Jongwook Kye, Juhan Kim, Rod Augur
Publikováno v:
2013 IEEE International Electron Devices Meeting.
In this paper, we have presented the need for Middle of Line (MOL) Local Interconnects in a fixed layout shape called “Special Constructs” in order to make 20nm a very compelling technology for product migration from 28nm. These constructs are us
Autor:
Katharine Dovidenko, S. Shokhor, Harry Efstathiadis, Alain E. Kaloyeros, S. Naar, Anna W. Topol, Serge Oktyabrsky, S. Beasor
Publikováno v:
MRS Proceedings. 654
We present the results of detailed chemical and structural characterization of the VO2/Al/Si(100) thin film heterostructures fabricated by chemical vapor deposition and physical vapor deposition methods. The presence of the thermochromic behavior in
Publikováno v:
European Workshop Materials for Advanced Metallization.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.