Zobrazeno 1 - 10
of 85
pro vyhledávání: '"S Umekawa"'
Publikováno v:
B110. IMAGING AND MOLECULAR BIOMARKERS FOR LUNG CANCER.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7130fb04ece7d9f3f16212fb00271e7e
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a4462
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a4462
Autor:
S. Umekawa, M.A. Fayed
Publikováno v:
C72. THORACIC ONCOLOGY LUNG CANCER CASE REPORTS: LESION IN THE AIRWAY AND PLEURA.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::69206d6075b809a43de8f2349f3b35ba
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a5907
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a5907
Publikováno v:
B61. FUNGAL INFECTION CASES.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::563f46688333ceab02fff1e23fe42e0a
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a3973
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2020.201.1_meetingabstracts.a3973
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pravachan Hegde, K. Van Gundy, Michael W. Peterson, M.A. Fayed, Daya Upadhyay, Kathryn L. Bilello, S. Umekawa
Publikováno v:
B69. THORACIC ONCOLOGY: OPTIMIZING DIAGNOSIS AND MANAGEMENT.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::49592e50d7f55d055abee7ae79ace508
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2019.199.1_meetingabstracts.a3971
https://doi.org/10.1164/ajrccm-conference.2019.199.1_meetingabstracts.a3971
Autor:
Y. Yagi, J. Morioka, Yoshihiko Fuji, Y. Kashiura, Mari Takahashi, M. Matsuda, S. Urata, K. Yoshida, Tatsuya Ohguro, K. Ohtsuka, T. Kamakura, K. Kimura, A. Ishiguro, S. Umekawa, T. Tamura, A. Takano, M. Yamada
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 114:113948
In this paper, temperature dependence of breakdown electrical field (Ebd) and time-to-failure (TTF) in AC TDDB for thick insulator film (300 nm) deposited by plasma process are discussed. In SiO2 film deposited using TEOS and O2 gases, increase of bo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1b02783056f2b073b57668dd92dfebc4
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113948
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.113948
Publikováno v:
Metal Powder Report. 58:18-29
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::547db099d80c21b0cc58189afba0cdbb
https://doi.org/10.1016/s0026-0657(03)00711-2
https://doi.org/10.1016/s0026-0657(03)00711-2
Autor:
Masahiro Tanaka, Tomoko Matsudai, M. Kobayashi, S. Umekawa, H. Nozaki, H. Hattori, Akio Nakagawa
Publikováno v:
Proceedings of the 13th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs. IPSD '01 (IEEE Cat. No.01CH37216).
A vertical trench gate 600 V PT (Punch Through) IGBT structure with a new concept of thin substrate wafer with a low dose n-buffer and a transparent p-emitter is proposed to realize an excellent trade-off relation between the device on-state voltage
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ebf7d327926ba9d4882b010f70f8c55c
https://doi.org/10.1109/ispsd.2001.934647
https://doi.org/10.1109/ispsd.2001.934647
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.