Zobrazeno 1 - 10
of 219
pro vyhledávání: '"Rzin A"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability, Volumes 100-101, 2019, 113489
The reliability of AlGaN/GaN HEMTs adopting Fe and C co-doping, with high and low carbon doping concentration was investigated by means of different stress tests. Firstly, DC and pulsed I-V characterization at room temperature are discussed, then dra
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2107.08412
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Rzin, M., Meneghini, M., Rampazzo, F., Zhan, V. Gao, De Santi, C., Kabouche, R., Zegaoui, M., Medjdoub, F., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Rzin, M., Chini, A., De Santi, C., Meneghini, M., Hugger, A., Hollmer, M., Stieglauer, H., Madel, M., Splettstößer, J., Sommer, D., Grünenpütt, J., Beilenhoff, K., Blanck, H., Chen, J.-T., Kordina, O., Meneghesso, G., Zanoni, E.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:397-401
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1672-1676
Publikováno v:
In Annales de chirurgie plastique esthetique 2009 54(6):567-570
Autor:
Jan Grünenpütt, Enrico Zanoni, Veronica Gao Zhan, Matteo Meneghini, D. Marcon, Michél Simon-Najasek, Frank Altmann, Gaudenzio Meneghesso, Fabiana Rampazzo, Mehdi Rzin, David Poppitz, Andreas Graff, Benoit Lambert, Hervé Blanck, K. Riepe, Helmut Jung
In this article, we present the results of on-wafer short-term (24 h) stress tests carried out on 0.25- $\mu \text{m}$ AlGaN/GaN HEMTs. Devices on-wafer were submitted to 24-h dc tests, at various gate and drain voltage values corresponding to dissip
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a75437cc012539ca4432f8e66f2f9c99
http://hdl.handle.net/11577/3349638
http://hdl.handle.net/11577/3349638
Publikováno v:
In Revue de Stomatologie et de Chirurgie Maxillo-faciale 2007 108(5):411-418
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.