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Publikováno v:
The Journal of Japan Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits. 12:413-417
半導体BGAパッケージのはんだボール接合部は接続強度, 信頼性上重要な箇所である。はんだ接合部を有する試験片を作成し, せん断試験を行って疲労寿命を評価した。疲労試験後の接合部
Publikováno v:
SAE Technical Paper Series.