Zobrazeno 1 - 10
of 139
pro vyhledávání: '"Ryabov, Vladimir A."'
Autor:
Salikhov, Nazyf, Shepetov, Alexander, Pak, Galina, Nurakynov, Serik, Ryabov, Vladimir, Saduyev, Nurzhan, Sadykov, Turlan, Zhantayev, Zhumabek, Zhukov, Valery
Publikováno v:
Atmosphere (2022) 13(10) 1667
Monitoring of radiation background in the near-surface atmosphere and of gamma rays, geoacoustic emission, and temperature in a borehole at 40m depth, as well as Doppler sounding on a low-inclined radio pass proceed at the Tien Shan mountain station
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2211.03409
Autor:
Zavestovskaya, Irina N., Filimonova, Marina V., Popov, Anton L., Zelepukin, Ivan V., Shemyakov, Alexander E., Tikhonowski, Gleb V., Savinov, Maxim, Filimonov, Alexander S., Shitova, Anna A., Soldatova, Olga V., Kolmanovich, Danil D., Shakhov, Pavel V., Kotelnikova, Polina A., Popov, Anton A., Chukavin, Nikita N., Pivovarov, Nikita A., Syuy, Alexander V., Klimentov, Sergey M., Ryabov, Vladimir A., Ivanov, Sergey A., Kaprin, Andrei D., Prasad, Paras N., Deyev, Sergey M., Koryakin, Sergei N., Kabashin, Andrei V.
Publikováno v:
In Materials Today Nano August 2024 27
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Sinev, Leonid S., Ryabov, Vladimir T.
Publikováno v:
Nano- i Mikrosistemnaya Tekhnika, 2011, no. 5, pp. 24-27
Stresses caused by thermal expansion coefficients mismatch of anodically bonded glass and silicon samples are studied. An analytical model to determine graphically the optimum bonding temperature is presented. It is essentially a model for thin-film
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1802.01472
Autor:
Sinev, Leonid S., Ryabov, Vladimir T.
Publikováno v:
Nano- i Mikrosistemnaya Tekhnika, 2014, no. 9, pp. 32-37
The residual stress induced in assembly is a common concern in electronic packaging. The mismatch in coefficient of thermal expansion between borosilicate glass and silicon, upon temperature variation, generates an internal stress state. This affects
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1802.01490
Autor:
Sadykov, Turlan, Yelemessov, Omarkhan, Mukhamedshin, Rauf, Galkin, Vladimir, Argynova, Alia, Argynova, Korlan, Makhmet, Khanshaiym, Zhukov, Valery, Ryabov, Vladimir, Khussainov, Yerkin
Publikováno v:
Particles (2571-712X); Sep2024, Vol. 7 Issue 3, p768-779, 12p
Autor:
Giordano, Alessandro, Izmailov, George N., De Luca, Roberto, Tskovrebov, Andrej M., Zherikhina, Larisa N., Ryabov, Vladimir A.
In this paper, after reviewing some of the most important concepts about Dark Matter (DM) and methods of its registration, in particular by using SQUIDs, we focus on two main problems. First, the possible mechanism of magnetic moment origin for DM pa
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1604.05247
Autor:
Ryabov, Vladimir M.1 (AUTHOR), Baryshev, Mikhail M.2 (AUTHOR) mbarisevs@latnet.lv, Voskresenskiy, Mikhail A.3 (AUTHOR), Popov, Boris V.1 (AUTHOR) mbarisevs@latnet.lv
Publikováno v:
International Journal of Molecular Sciences. Feb2023, Vol. 24 Issue 3, p2830. 17p.
Autor:
Salikhov, Nazyf, Shepetov, Alexander, Pak, Galina, Saveliev, Vladimir, Nurakynov, Serik, Ryabov, Vladimir, Zhukov, Valery
Publikováno v:
Geosciences (2076-3263); Jul2024, Vol. 14 Issue 7, p192, 27p