Zobrazeno 1 - 10
of 30
pro vyhledávání: '"Rupesinghe, N. L."'
A modified cathodic arc technique has been used to deposit carbon nitride thin films directly on n+ Si substrates. Transmission Electron Microscopy showed that clusters of fullerene-like nanoparticles are embedded in the deposited material. Field emi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9909125
Autor:
Chhowalla, M., Teo, K. B. K., Ducati, C., Rupesinghe, N. L., Amaratunga, G. A. J., Ferrari, A. C., Roy, D., Robertson, J., Milne, W. I.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/15/2001, Vol. 90 Issue 10, p5308, 10p, 8 Black and White Photographs, 1 Diagram, 12 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Milne, William I., Teo, Ken B. K., Rupesinghe, N. L., Gangloff, L., Minoux, E., Schnell, J.-P., Dieumegard, Dominique, Peauger, F., Legagneux, Pierre, Hasko, David G., Amaratunga, Gehan A. J., Pribat, Didier
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2005, Issue 1, p45-57, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Leo, K. B. K., Lacerda, R. G., Yang, M. H., Teh, A. S., Robinson, L. A. W., Dalal, S. H., Rupesinghe, N. L., Chhowalla, M., Lee, S. B., Jefferson, D. A., Hasko, D. G., Amaratunga, G. A. J., Milne, W. L., Legagneux, P., Gangloff, L., Minoux, E., Schnell, J. P., Pribat, D.
Publikováno v:
IEE Proceedings -- Circuits, Devices & Systems; Oct2004, Vol. 151 Issue 5, p443-451, 9p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2003, Vol. 21 Issue 1, p338-343, 6p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2000, Vol. 18 Issue 6, p2698-2703, 6p