Zobrazeno 1 - 10
of 145
pro vyhledávání: '"Ruoff M"'
We present a novel method, based on vortex imaging by low-temperature scanning electron microscopy (LTSEM), to directly image the sheet-current distribution in YBa2Cu3O7 dc SQUID washers. We show that the LTSEM vortex signals are simply related to th
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0509484
Autor:
Jehl, X., Roche, B., Sanquer, M., Voisin, B., Wacquez, R., Deshpande, V., Previtali, B., Vinet, M., Verduijn, J., Tettamanzi, G.C., Rogge, S., Kotekar-Patil, D., Ruoff, M., Kern, D., Wharam, D.A., Belli, M., Prati, E., Fanciulli, M.
Publikováno v:
In Procedia Computer Science 2011 7:266-268
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(5):1643-1645
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
ains · Anästhesiologie · Intensivmedizin · Notfallmedizin · Schmerztherapie. 34:409-413
OBJECTIVE MRSA-infection incidences are still rising, because of unreflected use of antibiotic drugs in man and animals. Although some European countries already have an incidence as high as 30% of MRSA infection in ICU-patients, there is no addition
Publikováno v:
Der Anaesthesist. 48:157-162
In den vergangenen Jahren wurden unterschiedliche closed-loop-Systeme mit modell-pradiktivem Charakter zur Regelung von Muskelrelaxanzien beschrieben. Seit der klinischen Einfuhrung von Mivacurium ist eine dank seiner kurzen Halbwertszeit fur den Reg
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pierre, M., Jehl, X., Wacquez, R., Vinet, M., Sanquer, M., Belli, M., Prati, E., Fanciulli, M., Verduijn, J., Tettamanzi, G.C., Lansbergen, G.P., Rogge, S., Ruoff, M., Fleischer, M., Wharam, D., Kern, D.
Publikováno v:
2009 10th International Conference on Ultimate Integration of Silicon; 2009, p249-252, 4p