Zobrazeno 1 - 10
of 48
pro vyhledávání: '"Ruiz Lopez, Mabel"'
Autor:
Palutke, Steffen, Martins, Michael, Klumpp, Stephan, Baev, Karolin, Richter, Mathias, Wagner, Tobias, Kuhlmann, Marion, Ruiz-Lopez, Mabel, Meyer, Michael, Tiedtke, Kai
The dependency on the excitation energy of ultrafast multi-photon ionization of xenon by intense, short extreme ultraviolet pulses (XUV) was investigated in the vicinity of the 4$d$ 'giant' resonance using ion time-of-flight spectroscopy. The yields
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2210.11378
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ruiz-Lopez, Mabel, Dacasa, Hugo, Mahieu, Benoit, Lozano, Magali, Zeitoun, Philippe, Bleiner, Davide
Publikováno v:
Applied optics, 57(6), 1315-1320
Short-wavelength imaging, spectroscopy, and lithography scale down the characteristic length-scale to nano meters. This poses tight constraints on the optics finishing tolerances, which is often difficult to characterize. Indeed, even a tiny surface
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1806.10664
Autor:
Correa Magdalena, Jonathan, Mehrjoo, Masoud, Battistelli, Riccardo, Lehmkühler, Felix, Marras, Alessandro, Wunderer, Cornelia, Hirono, Toko, Felk, Victor, Krivan, Frantisek, Lange, Sabine, Shevyakov, Igor, Vardanyan, Vahagn, Zimmer, Manfred, Hoesch, Moritz, Bagschik, Kai, Guerrini, Nicola, Marsh, Ben, Sedgwick, Iain, Cautero, Giuseppe, Giuressi, Dario, Menk, Ralf, Greer, Alan, Nicholls, Tim, Nichols, William, Pedersen, Ulrik Kofoed, Shikhliev, P., Tartoni, Nicola, Hyun, Hyo Jung, Kim, Shinhyung, Park, Soo-Young, Orsini, Fabienne, Iguaz Gutierrez, Francisco Jose, Buettner, Felix, Pfau, Bastian, Ploenjes-Palm, Elke, Kharitonov, Konstantin, Ruiz Lopez, Mabel, Pan, Rui, Gang, Seung-gi, Keitel, Barbara, Graafsma, Heinz
Publikováno v:
Journal of synchrotron radiation 1(1), 242-250 (2023). doi:10.1107/S1600577522010347
Journal of synchrotron radiation 1(1), 242 - 250 (2023). doi:10.1107/S1600577522010347
The PERCIVAL detector is a CMOS imager designed for the soft X-ray regime at photon sources. Although still in its final development phase, it has recently se
The PERCIVAL detector is a CMOS imager designed for the soft X-ray regime at photon sources. Although still in its final development phase, it has recently se
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b645a44609adb3aac7b73b0fa5b17096
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ruiz-Lopez, Mabel1 (AUTHOR) mabel.ruiz-lopez@desy.de, Samoylova, Liubov2 (AUTHOR), Brenner, Günter1 (AUTHOR), Mehrjoo, Masoud1 (AUTHOR), Faatz, Bart1 (AUTHOR), Kuhlmann, Marion1 (AUTHOR), Poletto, Luca3 (AUTHOR), Plönjes, Elke1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Journal of Synchrotron Radiation. May2019, Vol. 26 Issue 3, p899-905. 7p.
Autor:
Kharitonov, Konstantin, Mehrjoo, Masoud, Ruiz Lopez, Mabel, Keitel, Barbara, Kreis, Svea, Seyrich, Martin, Pop, Mihai, Plönjes, Elke
Publikováno v:
Optics express 29(14), 22345 (2021). doi:10.1364/OE.426931
Optics express 29(14), 22345 (2021). doi:10.1364/OE.426931
Ptychography, a scanning coherent diffraction imaging method, can produce a high-resolution reconstruction of a sample and, at the same time, of the illuminating beam. The emergence of v
Ptychography, a scanning coherent diffraction imaging method, can produce a high-resolution reconstruction of a sample and, at the same time, of the illuminating beam. The emergence of v
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b5a016be03fee91a84f432a603b88677
https://bib-pubdb1.desy.de/record/459947
https://bib-pubdb1.desy.de/record/459947
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ruiz-Lopez, Mabel, Mehrjoo, Masoud, Keitel, Barbara, Plönjes, Elke, Alj, Domenico, Dovillaire, Guillaume, Li, Lu, Zeitoun, Philippe
Publikováno v:
Sensors 20(22), 6426 (1-13) (2020). doi:10.3390/s20226426
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors
Sensors, 2020, 20 (22), pp.6426. ⟨10.3390/s20226426⟩
Sensors, MDPI, 2020, 20 (22), pp.6426. ⟨10.3390/s20226426⟩
Sensors, Vol 20, Iss 6426, p 6426 (2020)
Sensors (Basel, Switzerland)
Sensors
Sensors, 2020, 20 (22), pp.6426. ⟨10.3390/s20226426⟩
Sensors, MDPI, 2020, 20 (22), pp.6426. ⟨10.3390/s20226426⟩
Sensors, Vol 20, Iss 6426, p 6426 (2020)
Sensors 20(22), 6426 (1-13) (2020). doi:10.3390/s20226426
Wavefront analysis is a fast and reliable technique for the alignment and characterization of optics in the visible, but also in the extreme ultraviolet (EUV) and X-ray regions. However,
Wavefront analysis is a fast and reliable technique for the alignment and characterization of optics in the visible, but also in the extreme ultraviolet (EUV) and X-ray regions. However,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f45b57f75bcfc5c01264865cf255106e