Zobrazeno 1 - 10
of 83
pro vyhledávání: '"Ruffilli, Roberta"'
Autor:
Milionis, Athanasios, Fragouli, Despina, Brandi, Fernando, Liakos, Ioannis, Barroso, Suset, Ruffilli, Roberta, Athanassiou, Athanassia
Publikováno v:
Applied Surface Science, Volume 351, 2015, Pages 74-82, ISSN 0169-4332
We report the development of magnetic nanocomposite sheets with superhydrophobic and superoleophilic surfaces generated by laser ablation. Polydimethylsiloxane elastomer freestanding films, loaded homogeneously with 2% wt. carbon coated iron nanopart
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2402.05578
Autor:
Ruffilli, Roberta
Cette thèse, effectuée en collaboration entre le CEMES-CNRS, le laboratoire Satie (ENS Cachan) et NXP Semiconductors est motivée par la compréhension des mécanismes de défaillance des dispositifs MOSFET pour les applications dans l'industrie au
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2017TOU30256/document
Autor:
Mula, Guido, Pinna, Elisa, Falqui, Andrea, Ruffilli, Roberta, Palmas, Simonetta, Mascia, Michele
Publikováno v:
In Applied Surface Science 30 August 2014 311:252-257
Autor:
Salerno, Marco, Żukowska, Agnieszka, Thorat, Sanjay, Ruffilli, Roberta, Stasiak, Mateusz, Molenda, Marek
Publikováno v:
In Journal of Food Engineering May 2014 128:96-102
Autor:
Mula, Guido, Tiddia, Maria V., Ruffilli, Roberta, Falqui, Andrea, Palmas, Simonetta, Mascia, Michele
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 April 2014 556:311-316
Autor:
Salerno, Marco, Derchi, Giacomo, Thorat, Sanjay, Ceseracciu, Luca, Ruffilli, Roberta, Barone, Alberto C.
Publikováno v:
In Dental Materials 2011 27(12):1221-1228
Analyse du vieillissement de la métallisation d'un MOSFET par la distribution du potentiel de source
Autor:
Ruffilli, Roberta, Berkani, Mounira, Rostaing, Gilles, Legros, Marc, Lefebvre, Stéphane, Dupuy, Philippe
Publikováno v:
Symposium de Genie Electrique
Symposium de Genie Electrique, Jun 2016, Grenoble, France
Symposium de Genie Electrique, Jun 2016, Grenoble, France
International audience; La reconstruction de la couche de métallisation est l'un des mécanismes de dégradation le plus observé dans les composants électroniques de puissance de type smart power soumis à des contraintes thermiques sévères tell
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b1d72ede939c7a6678f404436766ac88
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01361625/document
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01361625/document
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.