Zobrazeno 1 - 10
of 204
pro vyhledávání: '"Rue C"'
Publikováno v:
Clinical Ophthalmology, Vol Volume 15, Pp 575-581 (2021)
Steven Brown,1 Clayton Rue,2 Kyle Smith,3 Robert Arnold4 1Martin Methodist University, Pulaski, TN, USA; 2NSCA Level III Instructor, Anchorage, AK, USA; 3Accurate Vision, Anchorage, AK, USA; 4Alaska Blind Child Discovery, Alaska Children’s EYE & St
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2eaa4390adc7479db09d64f2637d1181
Self Sovereign Identity (SSI) is an emerging identity system that facilitates secure credential issuance and verification without placing trust in any centralised authority. To bypass central trust, most SSI implementations place blockchain as a trus
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2308.01539
Publikováno v:
In Applied Ergonomics July 2023 110
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
MRS Bulletin, 4, 39, 342-346
Over the last few years, significant improvements in sources, columns, detectors, control software, and accessories have enabled a wealth of new focused ion beam applications. In addition, modeling has provided many insights into ion-sample interacti
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1079ca73c04f578290d9b22330e4bbab
http://resolver.tudelft.nl/uuid:be286be1-9b58-4061-a804-972ad053b5d2
http://resolver.tudelft.nl/uuid:be286be1-9b58-4061-a804-972ad053b5d2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2009 16th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2009, p94-99, 6p