Zobrazeno 1 - 10
of 284
pro vyhledávání: '"Rudenko O. V."'
Publikováno v:
Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature, Iss 3, Pp 40-46 (2009)
The designer-technological analysis of ellipsometric parameters measuring and calculation of the film refraction index and thickness scheme is conducted in this article. The flow-chart is developed and the model of apparatus for the film refraction i
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2a6658c2554e4ffb95374adaa47851c7
Autor:
Rudenko, O. V.1,2,3 (AUTHOR) rudenko@acs366.phys.msu.ru
Publikováno v:
Radiophysics & Quantum Electronics. Oct2023, Vol. 66 Issue 5/6, p321-332. 12p.
Autor:
Gusev, V. A.1,2 (AUTHOR) vgusev@bk.ru, Rudenko, O. V.1,2,3 (AUTHOR) rudenko@acs366.phys.msu.ru
Publikováno v:
Acoustical Physics. Jun2023, Vol. 69 Issue 3, p318-324. 7p.
Autor:
Rudenko, O. V., Vaitsekhovska, O. R.
Publikováno v:
Uzhhorod National University Herald Series Law; 2024, Vol. 82 Issue 1, p305-310, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bazylenko, V. A.1 (AUTHOR) 4mgu@mail.ru, Rudenko, O. V.1,2,3 (AUTHOR) rudenko@acs366.phys.msu.ru
Publikováno v:
Doklady Physics. May2023, Vol. 68 Issue 5, p141-143. 3p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Rudenko, O. V.1,2,3 (AUTHOR) rudenko@acs366.phys.msu.ru
Publikováno v:
Doklady Physics. May2021, Vol. 66 Issue 5, p147-151. 5p.