Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Rudack, M."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems; 2000, p114-122, 9p
Publikováno v:
Proceedings IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems; 2000, p78-86, 9p
Publikováno v:
Records of the IEEE International Workshop on Memory Technology, Design & Testing; 2000, p85-90, 6p
Autor:
Rudack, M., Niggemeyer, D.
Publikováno v:
Proceedings 1999 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems (EFT'99); 1999, p31-39, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
NOMS 2002. IEEE/IFIP Network Operations & Management Symposium. Management Solutions for the New Communications World(Cat. No.02CH37327); 2002, p947-949, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::30e825f6943a318918196584169c5a73
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0036972648&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0036972648&partnerID=MN8TOARS
