Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Rovner, Vyacheslav V."'
1
Periodical
Performance and manufacturability trade-offs of pattern minimization for sub-22nm technology nodes
Autor: Rovner, Vyacheslav V., Jhaveri, Tejas, Morris, Daniel, Strojwas, Andrzej, Pileggi, Larry
Publikováno v: Proceedings of SPIE; March 2011, Vol. 7974 Issue: 1 p79740I-79740I-10, 7894271p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje