Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Rovedo, Nivo"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(1):47-56
Autor:
Nayfeh, Hasan M.1,2, Rovedo, Nivo2, Bryant, Andres3, Narasimha, Shreesh2, Ning Su2, Kumar, Arvind, Sleight, Jeffrey W.4, Robison, Robert R.3, Rausch, Werner2, Mallela, Hari2, Freeman, Greg1,2, Xiaojun Yu2
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Dec2009, Vol. 56 Issue 12, p3097-3105. 9p. 2 Diagrams, 2 Charts, 11 Graphs.
Autor:
Hook, Terence B., Adler, Eric, Guarin, Fernando, Lukaitis, Joseph, Rovedo, Nivo, Schruefer, Klaus
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Jul2001, Vol. 48 Issue 7, p1346, 8p, 1 Chart, 10 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Li, Jinghong, Lamberti, Angela, Domenicucci, Anthony, Utomo, Henry, Luo, Zhijiong, Rovedo, Nivo, Fang, Sunfei, Ng, Hung, Holt, Judson R., Madan, Anita, Woh, Chung, Ku, Hum, Schepis, Dominic J., Han, Ping, Lagus, Mark
Publikováno v:
ECS Transactions; October 2008, Vol. 16 Issue: 10 p545-549, 5p
Autor:
Jun Yuan, Victor Chan, Rovedo, Nivo, Sardesai, Viraj, Kanike, Narasimhulu, Varadarajan, Vidya, Mickey Yu, Jong Ho Yang, Y. K. Jeong, O. Sung Kwon, Belyansky, Michael P., Eller, Manfred, Yong Meng Lee, Cave, Nigel, Huiling Shang, Ying Li, Divakaruni, Rama
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters; Sep2009, Vol. 30 Issue 9, p916-918, 3p, 5 Graphs