Zobrazeno 1 - 10
of 40
pro vyhledávání: '"Roussel, Manuel"'
Autor:
Roussel, Manuel
Les propriétés optiques et électriques de nanoparticules de silicium enrobées de silice ont été au centre de nombreuses études ces vingt dernières années en raison de leurs potentielles applications pour les futures générations de cellules
Externí odkaz:
http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00782200
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/78/29/59/PDF/These_Roussel_GPM_2012.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/78/29/59/PDF/These_Roussel_GPM_2012.pdf
Autor:
Wang, Li, Wurster, Peter, Gazdzicki, Pawel, Roussel, Manuel, Sanchez, Daniel G., Guétaz, Laure, Jacques, Pierre-André, Gago, Aldo S., Andreas Friedrich, K.
Publikováno v:
In Journal of Electroanalytical Chemistry 15 June 2018 819:312-321
Autor:
Hadjixenophontos, Efi, Roussel, Manuel, Sato, Toyoto, Weigel, Andreas, Stender, Patrick, Orimo, Shin-ichi, Schmitz, Guido
Publikováno v:
In International Journal of Hydrogen Energy 31 August 2017 42(35):22411-22416
Publikováno v:
In Acta Materialia 1 June 2017 131:315-322
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nanoscale Research Letters, Vol 6, Iss 1, p 164 (2011)
Abstract Silicon nanoclusters are of prime interest for new generation of optoelectronic and microelectronics components. Physical properties (light emission, carrier storage...) of systems using such nanoclusters are strongly dependent on nanostruct
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/ff79f8e36be44a998015ea85e4d0acd9
Autor:
Gourbilleau Fabrice, Grandidier Bruno, Stiévenard Didier, Roussel Manuel, Chen Wanghua, Talbot Etienne, Lardé Rodrigue, Cadel Emmanuel, Pareige Philippe
Publikováno v:
Nanoscale Research Letters, Vol 6, Iss 1, p 271 (2011)
Abstract In this study, we have performed nanoscale characterization of Si-clusters and Si-nanowires with a laser-assisted tomographic atom probe. Intrinsic and p-type silicon nanowires (SiNWs) are elaborated by chemical vapor deposition method using
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a8d2a1cb0d324c9687ff793b315c1388
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.